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    • WYJ-4XDIC科研級微分干涉顯微鏡

      科研級微分干涉顯微鏡WYJ-4XDIC適用于金相、礦相、晶體、硅片、電路基板、FPD等結構分析和研究,或用于TFT液晶顯示屏導電粒子分析研究。是金屬學(xué)、礦物學(xué)、精密工程學(xué)、電子學(xué)、半導體工業(yè)、硅片制造業(yè)、電子信息產(chǎn)業(yè)等觀(guān)察研究的理想儀器??偡糯蟊稊担?0-800X

      型號:WYJ-4XDIC
      更新日期:2021-08-15
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